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【推荐原文】Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability

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namisang

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1#
发表于 2009-1-15 14:27:59 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability
作者：A.P. Jayasumana and Y.K. Malaiya and R. Rajsuman
原文地址：http://www.cs.colostate.edu/~malaiya/p/rajsuman91.pdf
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Circuits, CMOS, design, fault, Testability
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如来佛祖
  • TA的每日心情
    奋斗
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    [LV.5]测试团长
    2#
    发表于 2023-1-24 21:15:26 | 只看该作者
    确定是软件测试文章？
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