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【推荐原文】Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability

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发表于 2009-1-15 14:27:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability
作者:A.P. Jayasumana and Y.K. Malaiya and R. Rajsuman
原文地址:http://www.cs.colostate.edu/~malaiya/p/rajsuman91.pdf
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