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【推荐原文】Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability

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发表于 2009-1-15 14:27:59 | 只看该作者回帖奖励

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Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability
作者：A.P. Jayasumana and Y.K. Malaiya and R. Rajsuman
原文地址：http://www.cs.colostate.edu/~malaiya/p/rajsuman91.pdf

Circuits, CMOS, design, fault, Testability

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发表于 2023-1-24 21:15:26 | 只看该作者

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