例如有如下代码（C语言）：
for(i=0;i<num;i++)
{
    while (j>0)
    {
        j--;
    }
}


该嵌套循环的测试用例设计思路是怎样的？
有人能指点一下么？

嵌套循环会有他的边界值,循环起点,终点,均需要测试,需要应用区域抽样来进行,这样可以减少用例

白盒测试嵌套循环可以参考以下方法：
1、对内层循环做简单循环的全部测试，所有其它层的循环次数量为最小值
2、逐步推外，对其外面一层循环进行测试，测试时保持所有外层循环的循环次数取最小值，所有其它嵌套内层循环次数取典型值
3、反复进行，直到所有循环测试完毕
4、对全部各层循环同时取最小循环次数，或者同时取最大循环次数

逻辑覆盖是以程序内部的逻辑结构为基础的测试用例设计技术，这一方法要求测试人员对程序的逻辑结构有清楚的了解。逻辑覆盖可分为：语句覆盖、判断覆盖、条件覆盖、判断-条件覆盖、条件组合覆盖与路径覆盖。每种都各有利弊，采用条件组合覆盖和路径覆盖两种方法设计测试用例,并进行优化是最好的。

[ 本帖最后由 hongfeng0001 于 2007-3-7 08:39 编辑 ]

引用:

2、逐步推外，对其外面一层循环进行测试，测试时保持所有外层循环的循环次数取最小值，所有其它嵌套内层循环次数取典型值

请问三楼的仁兄，你第二步中，“所有其他嵌套内层循环次数取典型值”有什么好处？为什么不内层嵌套循环也都取最小值？

引用楼上:4、对全部各层循环同时取最小循环次数，或者同时取最大循环次数
这条不理解，一般取最小循环次数就可以了,为什么还要取最大循环次数呢?是不是怕遗漏.如果像您说的,那么是不是可以取最小和最大次数都取来设计用例.

汗....不懂...学习ing