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[讨论] 缺陷控制线如何制定

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该用户从未签到

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1#
发表于 2009-3-19 16:57:22 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
最近遇到一个问题,比较困惑,希望牛人给解答一下
我们在review发现的问题,以及在测试过程中发现的bug,都要统计缺陷密度等等统计值,组织级都有一个控制的上下限来作为控制值,我们公司以前就是根据以前项目的情况拍脑袋或头脑风暴产生,这样在一定意义上肯定不合理,我现在不清楚如何操作来定义这个控制值
我最初的想法是,收集数据到对数据修正,符合正态分布,到求出均值和标准差,这样求出落在+-3sigma 的区间或90%等等的置信区间,当然是x均值的区间,也就是期望值,但问题是我求出来的值很小,根本就没有办法使用
问题出在了哪里,或大家的公司是如何定义这个值的
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该用户从未签到

2#
发表于 2009-3-19 19:34:59 | 只看该作者
1,你的上下限不一定要是3sigma,因为你的过程还没收敛到这个程度,我觉得你不妨根据过往1-2年的历史数据,中位数加减某个上下限,达到75%的满足率即可;
2,也可能你的项目特征需要进一步区分,从而有多套过程性能数据和控制限。
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3#
 楼主| 发表于 2009-3-20 09:07:54 | 只看该作者
luoyear谢谢你
有一点我不明白,我的想法是这样的,控制区间及控制的上下限其实就是我们期望的点落在相应的区间内,也就是均值在期望的区间内,而均值只要样本量大于30的话,基本上就符合正态分布了,我们根据均值,标准差可以求出如70%的置信区间,那这个均值的置信区间为什么不能作为控制的上下限呢,因为我用minitab求出来发现这个区间值非常的小,不能作为控制线来使用,问题出在了哪里?
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