第80贴【2004－8－11】：基于边界扫描机制的标准化设计

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第三代可测试性设计技术：基于边界扫描机制的标准化设计

　　鉴于结构化可测试性设计方法的一些缺点，有必要开发一种更为简单的、标准化的可测试性设计方法。为此，从1986～1988年，以欧洲和北美会员为主的联合测试行动组织（JTAG：joint test action group）率先开展了边界扫描技术的研究，提出了一系列边界扫描标准草案。1990年，IEEE组织和JTAG组织共同推出了IEEE 1149.1边界扫描标准［18,19］。
　　IEEE 1149.1定义了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，其主要思想是：通过在内部逻辑之间，即边界上增加边界扫描单元，实现对状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。边界扫描机制可以实现下列目标：
      (1) 测试不同单元之间的连接；
      (2) 测试单元的功能；
　　(3) 应用边界扫描寄存器完成其他测试功能，如伪随机测试、特征分析、静态测试等；
　　边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试性设计方法。自从边界扫描标准出现以来，市场上支持边界扫描机制及设计开发软件与日俱增，其应用越来越广泛。需要指出的是，边界扫描机制适用于集成度比较高的单元，对于集成度较低的而言，采用结构化可测试性设计方法有可能会得到更为优化的设计结。