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第三代可测试性设计技术:基于边界扫描机制的标准化设计
鉴于结构化可测试性设计方法的一些缺点,有必要开发一种更为简单的、标准化的可测试性设计方法。为此,从1986~1988年,以欧洲和北美会员为主的联合测试行动组织(JTAG:joint test action group)率先开展了边界扫描技术的研究,提出了一系列边界扫描标准草案。1990年,IEEE组织和JTAG组织共同推出了IEEE 1149.1边界扫描标准[18,19]。
IEEE 1149.1定义了一种标准的边界扫描结构及其测试接口,其主要思想是:通过在内部逻辑之间,即边界上增加边界扫描单元,实现对状态的串行设定和读取,从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。边界扫描机制可以实现下列目标:
(1) 测试不同单元之间的连接;
(2) 测试单元的功能;
(3) 应用边界扫描寄存器完成其他测试功能,如伪随机测试、特征分析、静态测试等;
边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试性设计方法。自从边界扫描标准出现以来,市场上支持边界扫描机制及设计开发软件与日俱增,其应用越来越广泛。需要指出的是,边界扫描机制适用于集成度比较高的单元,对于集成度较低的而言,采用结构化可测试性设计方法有可能会得到更为优化的设计结。 |
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