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软件测试部分中英文对照
I18N(Internationalization): 国际化
Identify Exploratory Tests – 识别探索性测试
IEEE:美国电子与电器工程师学会(Institute of Electrical and Electronic Engineers)
Incident 事故
Incremental testing : 渐增测试
incremental testing:渐增测试
infeasible path:不可达路径
input domain:输入域
Inspection : 审查
inspection:检视
installability testing:可安装性测试
Installing testing : 安装测试
instrumentation:插装
instrumenter:插装器
Integration :集成
Integration testing : 集成测试
interface : 接口
interface analysis:接口分析
interface testing:接口测试
interface:接口
invalid inputs:无效输入
isolation testing:孤立测试
Issue : 问题
Iteration : 迭代
Iterative development: 迭代开发
job control language:工作控制语言
Job:工作
Key concepts : 关键概念
Key Process Area : 关键过程区域
Keyword driven testing : 关键字驱动测试
Kick-off meeting : 动会议
L10N(Localization) : 本地化
Lag time : 延迟时间
LCSAJ:线性代码顺序和跳转(Linear Code Sequence And Jump)
LCSAJ coverage:LCSAJ覆盖
LCSAJ testing:LCSAJ测试
Lead time : 前置时间
Load testing : 负载测试
Load Testing:负载测试
Localizability testing: 本地化能力测试
Localization testing : 本地化测试
logic analysis:逻辑分析
logic-coverage testing:逻辑覆盖测试
Maintainability : 可维护性
maintainability testing:可维护性测试
Maintenance : 维护
Master project schedule :总体项目方案
Measurement : 度量
Memory leak : 内存泄漏
Migration testing : 迁移测试
Milestone : 里程碑
Mock up : 模型,原型
modified condition/decision coverage:修改条件/判定覆盖
modified condition/decision testing :修改条件/判定测试
modular decomposition:参考模块分解
Module testing : 模块测试
Monkey testing : 跳跃式测试
Monkey Testing:跳跃式测试
mouse over:鼠标在对象之上
mouse leave:鼠标离开对象
MTBF:平均失效间隔实际(mean time between failures)
MTP MAIN TEST PLAN主确认计划
MTTF:平均失效时间 (mean time to failure)
MTTR:平均修复时间(mean time to repair)
multiple condition coverage:多条件覆盖
mutation analysis:变体分析
N/A(Not applicable) : 不适用的
Negative Testing : 逆向测试, 反向测试, 负面测试
negative testing:参考负面测试
Negative Testing:逆向测试/反向测试/负面测试 |
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