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缺陷密度是怎样计算的?

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    [LV.1]测试小兵

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    1#
    发表于 2007-6-10 13:15:46 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
    缺陷密度是怎样计算的?
    请举例说明:
    研发活动发现缺陷密度?
    研发活动引入缺陷密度?
    工作产品缺陷密度?
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    2#
    发表于 2007-7-16 15:38:58 | 只看该作者
    我只知道缺陷密度反映产品质量,缺陷密度=缺陷数量/软件规模(即代码行数),研发活动发现缺陷密度,研发活动引入缺陷密度,工作产品缺陷密度用这个公式,只是缺陷数量分别是研发活动发现缺陷数量,研发活动引入缺陷数量,工作产品缺陷数量,软件规模是分别相应的代码行数
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    3#
    发表于 2007-7-23 22:23:40 | 只看该作者
    研发活动发现缺陷密度=研发活动中发现的缺陷/软件规模
    研发活动引入缺陷密度=研发活动引入缺陷/软件规模
    工作产品缺陷密度=工作产品缺陷/软件规模
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    4#
    发表于 2007-7-24 09:46:35 | 只看该作者
    比如“缺陷数/代码行”就是一种度量。

    原帖由 candy_83 于 2007-7-23 22:23 发表
    研发活动发现缺陷密度=研发活动中发现的缺陷/软件规模
    研发活动引入缺陷密度=研发活动引入缺陷/软件规模
    工作产品缺陷密度=工作产品缺陷/软件规模
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    5#
    发表于 2007-7-24 10:16:55 | 只看该作者
    我记得王老师当时讲的就是“缺陷数/总的代码行数”,(不包含注释和空行)
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