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[原创] 根据测试情况预测发布后的缺陷个数

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该用户从未签到

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1#
发表于 2005-6-4 19:54:35 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式
如题:根据发布前的测试情况(如缺陷密度,MTTF)预测发布后的缺陷个数

有没有什么工具或是标准可以预测?

____________________________________

另: 有一题求解:

代码33,000行
1.  要求用户可发现的缺陷密度不能超过0.0003%(十万分之三)
2.  在500小时的测试执行中,已发现15个缺陷
3.  在最近的50小时内没发现任何缺陷

为了达到目标1, 还需多长时间的无缺陷测试?


谢谢!
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该用户从未签到

3#
发表于 2006-2-6 13:41:40 | 只看该作者
LZ,
0.0003%是十万分之三吗?
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该用户从未签到

2#
发表于 2005-6-7 10:12:43 | 只看该作者
第一个问题:
该问题可以通过瑞利(Rayleigh)曲线模型得到版本发布后的缺陷遗留情况,不过该模型得到的结果也仅仅是统计意义上的。该曲线的拟制,需要得到软件在发布前各个版本的缺陷数据,然后,通过这些数据拟合出瑞利缺陷,从而得到发布后的遗留缺陷数据。

第二个问题:
该问题是想得到何时中止测试,个人认为,这个问题没有标准答案。不同成熟度的软件企业都有自己的数据度量模型,一个CMM5级的企业和一个CMM2级的企业,肯定是不相同的。
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