第156贴【2004－12－6】：漏测分析

天网 · 发表于 2004-12-6 12:54:09

对于测试来说，进行漏测分析有助于测试的不断改进。漏测的分析不仅仅分析版本发布之后的缺陷，还可以针对内部每轮系统测试版本的漏测问题进行分析。一般对于每个缺陷我们需要从以下几个角度进行分析：
 。该缺陷是否能够在内部或者上一个系统测试版本中被发现？为什么没有被发现？如何避免这类情况产生？
 。该缺陷是否有相应的用例？如果没有，则设计用例，同时还需要分析是否还有类似的问题？针对这些类似的问题是否也需要补充相应的用例？
 。该缺陷是否属于因开发修改其它缺陷而引入的新缺陷？为什么会引入新的缺陷？回归的时候为什么没有考虑这方面测试，是否回归分析不够全面？如何改进？