白盒测试的嵌套循环应该如何设置测试用例??
例如有如下代码(C语言):for(i=0;i<num;i++)
{
while (j>0)
{
j--;
}
}
该嵌套循环的测试用例设计思路是怎样的?
有人能指点一下么? 嵌套循环会有他的边界值,循环起点,终点,均需要测试,需要应用区域抽样来进行,这样可以减少用例 白盒测试嵌套循环可以参考以下方法:
1、对内层循环做简单循环的全部测试,所有其它层的循环次数量为最小值
2、逐步推外,对其外面一层循环进行测试,测试时保持所有外层循环的循环次数取最小值,所有其它嵌套内层循环次数取典型值
3、反复进行,直到所有循环测试完毕
4、对全部各层循环同时取最小循环次数,或者同时取最大循环次数
用逻辑覆盖设计测试用例
逻辑覆盖是以程序内部的逻辑结构为基础的测试用例设计技术,这一方法要求测试人员对程序的逻辑结构有清楚的了解。逻辑覆盖可分为:语句覆盖、判断覆盖、条件覆盖、判断-条件覆盖、条件组合覆盖与路径覆盖。每种都各有利弊,采用条件组合覆盖和路径覆盖两种方法设计测试用例,并进行优化是最好的。[ 本帖最后由 hongfeng0001 于 2007-3-7 08:39 编辑 ] 2、逐步推外,对其外面一层循环进行测试,测试时保持所有外层循环的循环次数取最小值,所有其它嵌套内层循环次数取典型值
请问三楼的仁兄,你第二步中,“所有其他嵌套内层循环次数取典型值”有什么好处?为什么不内层嵌套循环也都取最小值? 引用楼上:4、对全部各层循环同时取最小循环次数,或者同时取最大循环次数
这条不理解,一般取最小循环次数就可以了,为什么还要取最大循环次数呢?是不是怕遗漏.如果像您说的,那么是不是可以取最小和最大次数都取来设计用例. 汗....不懂...学习ing
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