在做手机测试的过程中,发现了内存溢出的BUG,很难重现,怎么办?
我在做手机测试的过程中,发现了很多内存溢出(Once)bug,而且很难重现,不知道怎么办?请教各位老师,在此非常感谢!! 如果你能安装一个抓取Log的工具的话,会非常有帮助。即便你不能再复现,但是有log为证,RD还是会很看重这个问题的。
或者在report一个问题的时候,加上复现几率:1/10,做了10次只复现一次。 我们的手机测试都是用模拟器,如果出现问题会有log为证,对双方都有帮助的,非常好! 记得抓trace信息啊
谢谢各位老师的指点!!
我又学到了不少的东西 请问,内存外溢,对于手机黑盒测试中,会出现 什么BUG,请指教 原帖由 jiangf 于 2009-2-9 14:40 发表 http://bbs.51testing.com/images/common/back.gif请问,内存外溢,对于手机黑盒测试中,会出现 什么BUG,请指教
常见致命级故障:终端崩溃死机/花屏
严重级故障:长时间使用终端反应变慢(终止所有用户级应用进程后剩余内存空间减少)/单个进程(应用程序)无响应/局部屏幕刷新不正常/
常用的检测手段:抓取LOG
终端系统预设或外部加载进程/内存监控工具
什么辅助东东都没有的话,只能按照设计好的测试步骤进行复数循环操作,然后再观察测试终端的反应速度或是否死机。ps:测试步骤设计尽量简洁,方便手动或自动实施;测试步骤最好设计成循环模式,即最后一步的输出状态与第一步的初始状态一致。
暂时只能想到这么多,欢迎补充。 作白盒测试
页:
[1]