第79贴【2004－8－10】：基于扫描设计的结构化设计

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第一代可测试设计技术：基于扫描设计的结构化设计
　　我们知道，要完成某种系统功能可以采用不同的结构实现。传统的设计思想是尽量选用较为紧凑和简化的结构。然而，由于可测试性同系统的的结构密切相关，上述方法在设计中没有充分考虑结构对系统可测试性的影响，所设计出的系统的可测试性往往较差，将极大地增加可测试性改善设计的难度，这正是特定目标可测试性设计方法的根本缺陷。
　　结构化可测试性设计是一种新的可测试性设计策略，其主要思想是：从可测试性的观点出发，对结构结构提出一定的设计规则，使得所设计的产品更容易测试。结构化可测试性设计通常采用扫描设计的方法进行，有多种具体的实施方法，包括：扫描设计、扫描通路、扫描置位，等等。它依然存在如下的缺点：
　　(1)　可测试性设计的过程仍较复杂，设计周期较长，成本较高；
　　(2) 主要采用外部测试的方法，自动化程度不够，成本仍然较高；
　　(3) 不同的产品设计厂家采用不同的设计方法，相互之间不兼容，产品的维修性较差。