软件缺陷密度的计算方法

巴黎的灯光下

缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：

DD =  Defects/(K)LOC  

Defects是缺陷的数目。

可以计算在产品集成测试期间的缺陷密度，系统测试期间的缺陷密度，产品发布一定周期内的缺陷密度。