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标题: 手机测试之Stress Test [打印本页]

作者: sean_yin 时间: 2007-9-3 20:53
标题: 手机测试之Stress Test
Stress Test
Purpose:
为了解决市场上发现的重大Error，而进行的有针对性的强度测试.
主要是利用边缘测试（临界测试）手段.

压力测试，顾名思义，是给手机施加一定压力，从而找出手机软件上的Error。一般来说，对手机施加的压力主要有：
存储压力：由于手机采用的是栈式存储，所以当一个存储块满了之后，如果程序员不做相应处理或者处理不好的话，很容易造成其他存储区被擦除，从而在UI上出现问题（其他功能无法正常使用）。
边界压力：边界一直是程序员最容易忽略的地方。
响应能力压力：有时候某个操作可能处理的时间很长，在处理期间如果测试者再不断地进行其他操作的话，很容易出现问题。
网络流量压力（如在接电话时进行短信服务）等等。
在项目中，Stress Test有时也会用来重现不可重现的Error。
由于有不少不可重现的Error是由于Memory Leak(内存泄漏)引起的，所以不停的重复同一个操作是重现一个不可重现的Error的一个好方法。

作者: BenQ-SQA 时间: 2007-9-4 21:18
总之是让手机的Loading比较大时候的测试

作者: xyxykitty 时间: 2007-9-5 15:58
sdlkfj2 sdlkfj5

作者: xiaoyudian 时间: 2007-11-29 20:56
顶了

作者: pbz 时间: 2008-9-11 21:27
尽可能的压哈哈

作者: brucezhang 时间: 2008-9-12 16:58
还有一种就是内存或记忆体刚不满，例如仅剩下10几KB的时候，这个时候做测试也能发现很多问题。
有些spec里会详细的注明某个功能运行需要吃掉多少内存等等。。。

作者: pbz 时间: 2008-9-18 21:20
对头，楼上说的，在mtk平台上，偶遇到这样的bug多起

作者: 独孤雁 时间: 2008-9-25 18:02

不错

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