原帖由 candy_83 于 2007-7-23 22:23 发表 研发活动发现缺陷密度=研发活动中发现的缺陷/软件规模 研发活动引入缺陷密度=研发活动引入缺陷/软件规模 工作产品缺陷密度=工作产品缺陷/软件规模