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标题: 缺陷漏测分析：测试过程改进 [打印本页]

作者: passwordtest 时间: 2007-5-27 22:50
标题: 缺陷漏测分析：测试过程改进
见附件

作者: letfoxrush 时间: 2007-5-28 17:35
不错，这应该也是RCA的范畴。
不过这需要相当的度量数据积累才能进行得了

作者: HYZ 时间: 2007-5-30 23:42
酷！

作者: luming 时间: 2007-5-31 11:26
我用的acrobat5.0版本，无法打开。
看来需要高版本的了。

[ 本帖最后由 luming 于 2007-5-31 11:28 编辑 ]

作者: china110 时间: 2007-5-31 11:47
sas

作者: dennyliu 时间: 2007-5-31 17:41
sdlkfj2

作者: a_xun 时间: 2007-5-31 23:43
您真好，谢谢了

作者: bestmonty 时间: 2007-6-3 13:18
我也来学习下，谢谢了

作者: qinyuanyuan333 时间: 2007-6-3 16:39
怎么下不下来

作者: mygod 时间: 2007-6-17 17:01
酷！

作者: sunkitty 时间: 2007-6-19 22:26
支持！

作者: cooney 时间: 2007-6-20 10:21
缺陷管理

作者: njalic 时间: 2007-6-20 12:04
感谢!

作者: donghuanzi 时间: 2007-6-20 15:22
标题: 支持啊
顶，支持。。。

作者: super_wind 时间: 2007-6-21 15:53
ding

作者: xyz2000 时间: 2007-6-21 23:54
非常感谢

作者: Echo-Sun 时间: 2007-7-30 17:51
看先

作者: toyfrog 时间: 2007-8-27 14:25
学习下.

作者: liuhang19830409 时间: 2007-8-27 15:52
3q
sdlkfj6

作者: armand_lu 时间: 2007-8-28 16:37
3q

作者: zgwjh 时间: 2007-8-28 17:31
THANKS

作者: changlang530 时间: 2007-9-3 16:01
学习学习！

作者: alanzhou 时间: 2007-9-13 13:56
谢谢

作者: xudesili 时间: 2007-9-21 18:18
看来是个好东东

作者: xudesili 时间: 2007-9-21 18:20
不错，是中文的，准备晚上回去好好看看

作者: 愚人 时间: 2010-9-6 18:23
恩，很好，多谢……

作者: nefax 时间: 2010-9-7 21:09
标题: 回复 2# 的帖子
RCA是什么？

作者: zhouxiao 时间: 2010-10-7 17:45
这块还挺重要的

作者: yintianyouqin 时间: 2010-10-8 10:00
xiexie

作者: yulu126 时间: 2010-11-4 11:53
mark，迷糊

作者: beauty330804 时间: 2010-12-11 10:26
好东西，谢谢分享~~~

作者: wenyuhua 时间: 2011-4-14 14:05

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