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标题: 第156贴【2004－12－6】：漏测分析 [打印本页]

作者: 天网 时间: 2004-12-6 12:54
标题: 第156贴【2004－12－6】：漏测分析
对于测试来说，进行漏测分析有助于测试的不断改进。漏测的分析不仅仅分析版本发布之后的缺陷，还可以针对内部每轮系统测试版本的漏测问题进行分析。一般对于每个缺陷我们需要从以下几个角度进行分析：
 。该缺陷是否能够在内部或者上一个系统测试版本中被发现？为什么没有被发现？如何避免这类情况产生？
 。该缺陷是否有相应的用例？如果没有，则设计用例，同时还需要分析是否还有类似的问题？针对这些类似的问题是否也需要补充相应的用例？
 。该缺陷是否属于因开发修改其它缺陷而引入的新缺陷？为什么会引入新的缺陷？回归的时候为什么没有考虑这方面测试，是否回归分析不够全面？如何改进？

作者: 嘘garfield 时间: 2004-12-6 15:25
标题: 赞同,顶
跟做很多事情一样,其实都需要在忙一段以后,抽个时间总结,才能不断地进步

作者: wbjvvv 时间: 2004-12-7 12:59
其实静下心来理理思路,对工作的提高是非常有必要的,如果整天是在忙碌 ,有时候你会有种感觉不知道自己从中学到了什么?

作者: hotfire 时间: 2004-12-7 13:11
该说的你们都说了，也没什么好说的了.
总之斑竹说的有道理.

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