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标题: 【推荐原文】Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability [打印本页]

作者: namisang 时间: 2009-1-15 14:27
标题: 【推荐原文】Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability
Design of CMOS Circuits for Stuck-Open Fault Testability
作者：A.P. Jayasumana and Y.K. Malaiya and R. Rajsuman
原文地址：http://www.cs.colostate.edu/~malaiya/p/rajsuman91.pdf

作者: 如来佛祖 时间: 2023-1-24 21:15
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