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标题: 第82贴【2004－8－13】：新的可测试性机制体系结构 [打印本页]

作者: 天网 时间: 2004-8-13 10:22
标题: 第82贴【2004－8－13】：新的可测试性机制体系结构
90年代中期推出的递阶集成BIT（HIBIT：hierarchical and integrated BIT）是一种新型的系统级可测试性设计策略，它又被称为第四代的测试性设计技术。所谓HIBIT设计是指所设计的可测试性机制具备同系统一样的递阶层次结构，即具备包括系统级、子系统级（LRU）、电路板级、多芯片模块级（MCM）和芯片级的层次结构，不同层次的可测试性机制之间通过测试总线相连，实质上，HIBIT技术是边界扫描技术的一种延伸，在HIBIT中，板级测试利用IEEE 1149.1边界扫描标准进行，而设备级、系统级的测试则通过IEEE 1149.5 MTM总线进行。
　　采用分级递阶与集成可测试性机制便于进行“并行工程”的设计与开发，其主要优点是：便于测试性需求指标的分级分配；便于实现测试复用；便于实现并行分布式的测试进程，提高测试速度。实际上，HIBIT的最大特点就是引入了“并行过程”的设计思想，在HIBIT中采用了并行设计、可复用设计以及虚拟原型设计等并行工程设计方法，这是可测试性设计思想的一次飞跃。

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