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标题: 根据测试情况预测发布后的缺陷个数 [打印本页]

作者: bleum 时间: 2005-6-4 19:54
标题: 根据测试情况预测发布后的缺陷个数
如题:根据发布前的测试情况(如缺陷密度,MTTF)预测发布后的缺陷个数

有没有什么工具或是标准可以预测?

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另: 有一题求解:

代码33,000行
1.  要求用户可发现的缺陷密度不能超过0.0003%(十万分之三)
2.  在500小时的测试执行中,已发现15个缺陷
3.  在最近的50小时内没发现任何缺陷

为了达到目标1, 还需多长时间的无缺陷测试?

谢谢!

作者: testing 时间: 2005-6-7 10:12
第一个问题：
该问题可以通过瑞利（Rayleigh）曲线模型得到版本发布后的缺陷遗留情况，不过该模型得到的结果也仅仅是统计意义上的。该曲线的拟制，需要得到软件在发布前各个版本的缺陷数据，然后，通过这些数据拟合出瑞利缺陷，从而得到发布后的遗留缺陷数据。

第二个问题：
该问题是想得到何时中止测试，个人认为，这个问题没有标准答案。不同成熟度的软件企业都有自己的数据度量模型，一个CMM5级的企业和一个CMM2级的企业，肯定是不相同的。

作者: joeyzhu 时间: 2006-2-6 13:41
LZ,
0.0003%是十万分之三吗？

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