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标题: 在做手机测试的过程中，发现了内存溢出的BUG,很难重现，怎么办？ [打印本页]

作者: wangxinggang 时间: 2008-11-24 20:53
标题: 在做手机测试的过程中，发现了内存溢出的BUG,很难重现，怎么办？
我在做手机测试的过程中，发现了很多内存溢出（Once）bug，而且很难重现，不知道怎么办？
请教各位老师，在此非常感谢！！

作者: brucezhang 时间: 2008-11-25 13:24
如果你能安装一个抓取Log的工具的话，会非常有帮助。即便你不能再复现，但是有log为证，RD还是会很看重这个问题的。

或者在report一个问题的时候，加上复现几率：1/10，做了10次只复现一次。

作者: hufang-51 时间: 2008-11-25 15:17
我们的手机测试都是用模拟器，如果出现问题会有log为证，对双方都有帮助的，非常好！

作者: pbz 时间: 2008-11-25 19:51
记得抓trace信息啊

作者: wangxinggang 时间: 2008-11-28 19:49
标题: 谢谢各位老师的指点！！
我又学到了不少的东西

作者: jiangf 时间: 2009-2-9 14:40
请问，内存外溢，对于手机黑盒测试中，会出现　什么ＢＵＧ，请指教

作者: Jackc 时间: 2009-2-12 10:14

原帖由 jiangf 于 2009-2-9 14:40 发表
请问，内存外溢，对于手机黑盒测试中，会出现　什么ＢＵＧ，请指教

常见致命级故障：终端崩溃死机/花屏
严重级故障：长时间使用终端反应变慢（终止所有用户级应用进程后剩余内存空间减少）/单个进程（应用程序）无响应/局部屏幕刷新不正常/

常用的检测手段：抓取LOG
终端系统预设或外部加载进程/内存监控工具
什么辅助东东都没有的话，只能按照设计好的测试步骤进行复数循环操作，然后再观察测试终端的反应速度或是否死机。ps：测试步骤设计尽量简洁，方便手动或自动实施；测试步骤最好设计成循环模式，即最后一步的输出状态与第一步的初始状态一致。

暂时只能想到这么多，欢迎补充。

作者: applejuzi 时间: 2009-2-12 13:00
作白盒测试

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