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标题: 软件缺陷密度度量 [打印本页]

作者: flying_up 时间: 2008-10-22 09:43
标题: 软件缺陷密度度量
想请教大家一下,对于软件各模块的缺陷密度,大家都用什么方法进行度量? X-R图可以解决这个问题吗?
谢谢

作者: chengxq 时间: 2008-10-22 17:27
我抛砖引玉一下啊，因为这个X-R图只是在接受培训的时候介绍过，但没有真正的实施过，所以其中的优点和缺点不太清楚，对各模块的缺陷的统计，如果过程都一致的话，统计出模块的规模，以及相应的难易程度，看实际的测试bug数目，根据量化的结果，以及定义的缺陷控制的上下限，对不在上下限范围之内的数据，进行分析，分析的结果如果是存在问题，要有相应的结果措施，然后再进行必要的测试，在标准一致的情况下，看测试的结果是否在上下限范围之内。
关于X-R图，是要在相同的条件下，对各模块进行测试的结果进行统计，其实和上面说的本意是一致的，可能形式上有差异。不过X-R图没有应用，不做评价，楼下的继续

作者: flying_up 时间: 2008-10-23 14:55
谢谢楼上的答复。
现在度量的控制图很多都是用XmR图，我更是有一些困惑，假如我们知道每个模块的代码行，算出每个模块的缺陷密度，那么用XmR图是不是就比较合理了？

作者: chengxq 时间: 2008-10-23 15:44
如果不是从每个模块的代码行，发现的缺陷数，模块的难易程度去度量，把每个模块作为一个点，将所有的模块点制作成X-R图去分析和控制，那你是如何去做的啊？希望探讨

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