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标题: 第77贴【2004－8－6】：测试信息的处理与故障诊断 [打印本页]

作者: 天网 时间: 2004-8-6 10:36
标题: 第77贴【2004－8－6】：测试信息的处理与故障诊断
为了实现提高软件质量和可靠性，降低系统全寿命周期费用的目标，要求可测试性技术能够方便、快捷地获取有关被测软件状态的信息，确定软件工作正常与否、性能是否良好、是否存在故障以及存在何种故障，以便于采取调整设计、排除故障、更换备件等后续行为。
　　在对复杂的对象进行测试时，难点往往不在于如何获取测试信息，而在于如何对所获取的大量信息进行处理。例如：对于一个具有N个测点的数字电路而言，所能获取的测试信息的总量为N*2N位，随着N的增大，测试信息总量呈指数增长。显然，能否对所获取的测试信息进行有效处理并对可能存在的故障进行精确诊断，是可测试性技术成功应用的关键。

作者: 东方一华 时间: 2004-8-8 15:50
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