51Testing软件测试论坛

标题: 第220贴【2005－04－20】：缺陷损耗 [打印本页]

作者: 天网 时间: 2005-4-20 19:34
标题: 第220贴【2005－04－20】：缺陷损耗
缺陷损耗是使用阶段潜伏期和缺陷阶段分布来度量缺陷消除活动的有效性的一种度量。
缺陷损耗=（缺陷数量*发现的阶段潜伏期）/缺陷总量

例如，在验收测试期间，发现了9个缺陷，其中6个缺陷是在项目的需求阶段造成的。因为在验收测试之前的7个阶段（需求、概要设计、详细设计、编码、单元测试、集成测试、系统测试）中的任何一个阶段都有可能发现这些缺陷，所以我们将这些一直隐藏到验收阶段才发现的缺陷赋权值为7。这样，在验收测试阶段发现的这6个需求方面的缺陷加权数为42。
一般而言，损耗的数值越低，则说明缺陷的发现过程越有效，最理想的数值应该是1，即把各阶段引入的缺陷全部在该阶段发现并修复了。

欢迎光临 51Testing软件测试论坛 (http://bbs.51testing.com/)