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标题: 第73贴【2004－8－2】：可测试性技术的产生 [打印本页]

作者: 天网 时间: 2004-8-2 09:42
标题: 第73贴【2004－8－2】：可测试性技术的产生
　　可测试性的概念最早产生于航空电子领域。较早的航空电子设备的测试过程通常采用以分析输入/输出端口为主的“黑箱”方式进行。随着电子设备功能和结构日益复杂，可靠性、维修性要求日益增高，“黑箱”方法已越来越难以满足需求。为此，要求测试人员以更积极的方式介入测试过程，不仅要承担传统测试中激励生成者和响应分析者的角色，而且要成为整个测试过程的主导者和设计者，通过改善被测试对象的设计使其更便于测试，即提高被测对象的可测试性。这种可测试性的思想和概念最早由F.Liour等人于1976年提出。随后，美国国防部相继颁布了MIL-STD-471A通告II——《设备或系统的机内测试、外部测试、故障隔离和可测试性特性要求的验证及评价》、MIL-STD-470A——《系统及设备维修性管理大纲》、MIL-STD-2165——《电子系统及设备的可测试性大纲》等一系列与可测试性相关的标准规范。其中，MIL-STD-2165可测试性大纲将可测试性作为与可靠性及维修性等同的设计要求，并规定可测试性分析、设计及验证的要求及实施方法，该标准的颁布标志着可测试性作为一门独立学科的确立。

　　可测试性概念提出后，相继用于电子产品诊断电路设计及研究等各个领域。可测试性技术不仅对维修性设计特性产生重大的影响，而且影响到系统的效能及全寿命周期费用。

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