缺陷密度是怎样计算的?
缺陷密度是怎样计算的?请举例说明:
研发活动发现缺陷密度?
研发活动引入缺陷密度?
工作产品缺陷密度? 我只知道缺陷密度反映产品质量,缺陷密度=缺陷数量/软件规模(即代码行数),研发活动发现缺陷密度,研发活动引入缺陷密度,工作产品缺陷密度用这个公式,只是缺陷数量分别是研发活动发现缺陷数量,研发活动引入缺陷数量,工作产品缺陷数量,软件规模是分别相应的代码行数 研发活动发现缺陷密度=研发活动中发现的缺陷/软件规模
研发活动引入缺陷密度=研发活动引入缺陷/软件规模
工作产品缺陷密度=工作产品缺陷/软件规模 比如“缺陷数/代码行”就是一种度量。
原帖由 candy_83 于 2007-7-23 22:23 发表 http://bbs.51testing.com/images/common/back.gif
研发活动发现缺陷密度=研发活动中发现的缺陷/软件规模
研发活动引入缺陷密度=研发活动引入缺陷/软件规模
工作产品缺陷密度=工作产品缺陷/软件规模 我记得王老师当时讲的就是“缺陷数/总的代码行数”,(不包含注释和空行)
页:
[1]