第80贴【2004－8－11】：基于边界扫描机制的标准化设计
第三代可测试性设计技术：基于边界扫描机制的标准化设计鉴于结构化可测试性设计方法的一些缺点，有必要开发一种更为简单的、标准化的可测试性设计方法。为此，从1986～1988年，以欧洲和北美会员为主的联合测试行动组织（JTAG：joint test action group）率先开展了边界扫描技术的研究，提出了一系列边界扫描标准草案。1990年，IEEE组织和JTAG组织共同推出了IEEE 1149.1边界扫描标准［18,19］。
IEEE 1149.1定义了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，其主要思想是：通过在内部逻辑之间，即边界上增加边界扫描单元，实现对状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。边界扫描机制可以实现下列目标：
(1) 测试不同单元之间的连接；
(2) 测试单元的功能；
(3) 应用边界扫描寄存器完成其他测试功能，如伪随机测试、特征分析、静态测试等；
边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试性设计方法。自从边界扫描标准出现以来，市场上支持边界扫描机制及设计开发软件与日俱增，其应用越来越广泛。需要指出的是，边界扫描机制适用于集成度比较高的单元，对于集成度较低的而言，采用结构化可测试性设计方法有可能会得到更为优化的设计结。
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