flying_up 发表于 2008-10-22 09:43:44

软件缺陷密度度量

想请教大家一下,对于软件各模块的缺陷密度,大家都用什么方法进行度量? X-R图可以解决这个问题吗?
谢谢

chengxq 发表于 2008-10-22 17:27:02

我抛砖引玉一下啊,因为这个X-R图只是在接受培训的时候介绍过,但没有真正的实施过,所以其中的优点和缺点不太清楚,对各模块的缺陷的统计,如果过程都一致的话,统计出模块的规模,以及相应的难易程度,看实际的测试bug数目,根据量化的结果,以及定义的缺陷控制的上下限,对不在上下限范围之内的数据,进行分析,分析的结果如果是存在问题,要有相应的结果措施,然后再进行必要的测试,在标准一致的情况下,看测试的结果是否在上下限范围之内。
关于X-R图,是要在相同的条件下,对各模块进行测试的结果进行统计,其实和上面说的本意是一致的,可能形式上有差异。不过X-R图没有应用,不做评价,楼下的继续

flying_up 发表于 2008-10-23 14:55:57

谢谢楼上的答复。
现在度量的控制图很多都是用XmR图,我更是有一些困惑,假如我们知道每个模块的代码行,算出每个模块的缺陷密度,那么用XmR图是不是就比较合理了?

chengxq 发表于 2008-10-23 15:44:05

如果不是从每个模块的代码行,发现的缺陷数,模块的难易程度去度量,把每个模块作为一个点,将所有的模块点制作成X-R图去分析和控制,那你是如何去做的啊?希望探讨
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