第78贴【2004－8－9】：特定目标可测试性设计
第一代可测试设计技术：特定目标可测试性设计第一代可测试性设计技术以外部测试和特定目标可测试性设计方法为基础。特定目标可测试性设计是指：针对特定功能和结构进行可测试性预计，判断其是否符合可测试性要求，若不满足，通过改善设计方案来提高其可测试性，直至满足要求。特定目标可测试性设计主要采用外部测试方法，测试向量的输入和测试响应的输出均通过被测设备的输入/输出端口进行操作，对被测对象内部节点的控制和观测则采用以在线（in-line）测试技术。其主要缺点如下：
(1) 设计同系统的具体功能和结构紧密相关，对较复杂的系统进行设计的难度大、周期长；
(2) 难以实现并行测试；
(3) 需要专用测试接口和测试工具，成本高；
(4) 随着系统的复杂，采用监控测试方法的适用范围日益减小。
目前，特定目标可测试性设计已逐渐被其他的可测试性技术所代替。尽管如此，对于复杂程度较低的而言，特定目标可测试性设计方法仍然是一种不可或缺的方法。
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