巴黎的灯光下 发表于 2019-3-29 15:23:35

软件缺陷密度的计算方法

缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：

DD =Defects/(K)LOC

Defects是缺陷的数目。

可以计算在产品集成测试期间的缺陷密度，系统测试期间的缺陷密度，产品发布一定周期内的缺陷密度。
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