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• 第83贴【2004－8－14】：新的测试信息处理技术与故障诊断方法的应用 (2 篇回复)
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• 第82贴【2004－8－13】：新的可测试性机制体系结构 (0 篇回复)
• 第81贴【2004－8－12】：新的可测试性设计思想 (0 篇回复)
• 第80贴【2004－8－11】：基于边界扫描机制的标准化设计 (0 篇回复)
• 第79贴【2004－8－10】：基于扫描设计的结构化设计 (0 篇回复)
• 第78贴【2004－8－9】：特定目标可测试性设计 (0 篇回复)
• 第77贴【2004－8－6】：测试信息的处理与故障诊断 (1 篇回复)
• 第76贴【2004－8－5】：可测试性机制的设计与优化 (0 篇回复)
• 第75贴【2004－8－4】：可测试性度量 (0 篇回复)
• 第74贴【2004－8－3】：可测试性的内涵 (0 篇回复)
• 第73贴【2004－8－2】：可测试性技术的产生 (0 篇回复)